Linewidths in a semiconductor microcavity with variable strength of normal-mode coupling

D. Karaiskaj, T. Maxisch, C. Ellmers, H.-J. Kolbe, G. Weiser, R. Rettig, S. Leu, W. Stolz, Martin R. Hofmann , F. Jahnke, S.W. Koch, W. Rühle

Phys. Rev. B 59, 13525

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